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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
MITAKA三鷹光器NH-3MAs非接觸式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)微透鏡陣列（MLA）形狀光學(xué)表征設(shè)備它配備了NH系列的所有基本形狀測(cè)量功能，可以測(cè)量透鏡和模具的橫截面形狀，并用專用軟件集體測(cè)量曲率和中心坐標(biāo)。
詳情介紹：
國(guó)內(nèi)總代NH-3MAs非接觸式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)MITAKA三鷹光器
長(zhǎng)處
通過高精度圖像處理可以評(píng)估鏡頭的光學(xué)特性
評(píng)估項(xiàng)目 ： 有效焦距 / 后焦 / 透射率 / 焦距 / 焦距 / 焦深 / MTF
同時(shí)測(cè)量多個(gè)微透鏡陣列 （MLA）
使用如下所示的測(cè)量光學(xué)系統(tǒng)用顯微鏡鏡頭放大平行光的集中圖像（針孔狹縫圖像），并由CCD相機(jī)捕獲圖像。 通過對(duì)圖像進(jìn)行圖像處理來評(píng)估鏡頭的光學(xué)特性。
測(cè)量光學(xué)元件
多點(diǎn)微透鏡陣列（MLA）也可以同時(shí)測(cè)量
矩陣創(chuàng)建軟件
專用矩陣測(cè)量軟件可記憶陣列模式，實(shí)現(xiàn)平滑的自動(dòng)測(cè)量。
它是MLA研發(fā)和質(zhì)量控制的理想選擇，這些研發(fā)和質(zhì)量控制變得越來越大。
諾馬斯基微分干涉觀測(cè)
NH的顯微鏡部分可以配備諾馬斯基微分干涉光學(xué)元件。
該光學(xué)系統(tǒng)可直觀地捕獲普通明場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)無法觀察到的數(shù)十?的表面粗糙度和劃痕，并可以使用激光探頭在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行定量粗糙度和階梯測(cè)量。
帶有諾馬斯基光學(xué)器件的NH-3N
包含諾馬斯基法學(xué)院的
NH系列光路圖
測(cè)量功能
使用激光探頭測(cè)量透鏡形狀測(cè)量
?曲率半徑、中心坐標(biāo)值
、圓度、頂點(diǎn)高度、XY坐標(biāo)、橫截面
、3D形狀測(cè)量、各透鏡表面的表面粗糙度
測(cè)量
光學(xué)表征通過圖像處理測(cè)量
?有效焦距、后焦、有效MLA焦距、各鏡頭的集光位置
、錯(cuò)位、各鏡頭的對(duì)焦光斑尺寸
、透射率
、焦
平面上的圖像形成評(píng)估（彗差、畸變等）、
景深（可選）
?MTF測(cè)量（可選）
通過高精度圖像處理可以評(píng)估鏡頭的光學(xué)特性
評(píng)估項(xiàng)目 ： 有效焦距 / 后焦 / 透射率 / 焦距 / 焦距 / 焦深 / MTF
同時(shí)測(cè)量多個(gè)微透鏡陣列 （MLA）
使用如下所示的測(cè)量光學(xué)系統(tǒng)用顯微鏡鏡頭放大平行光的集中圖像（針孔狹縫圖像），并由CCD相機(jī)捕獲圖像。 通過對(duì)圖像進(jìn)行圖像處理來評(píng)估鏡頭的光學(xué)特性。
測(cè)量光學(xué)元件
多點(diǎn)微透鏡陣列（MLA）也可以同時(shí)測(cè)量
矩陣創(chuàng)建軟件
專用矩陣測(cè)量軟件可記憶陣列模式，實(shí)現(xiàn)平滑的自動(dòng)測(cè)量。
它是MLA研發(fā)和質(zhì)量控制的理想選擇，這些研發(fā)和質(zhì)量控制變得越來越大。
它是MLA研發(fā)和質(zhì)量控制的理想選擇，這些研發(fā)和質(zhì)量控制變得越來越大。
諾馬斯基微分干涉觀測(cè)
NH的顯微鏡部分可以配備諾馬斯基微分干涉光學(xué)元件。
該光學(xué)系統(tǒng)可直觀地捕獲普通明場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)無法觀察到的數(shù)十?的表面粗糙度和劃痕，并可以使用激光探頭在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行定量粗糙度和階梯測(cè)量。
該光學(xué)系統(tǒng)可直觀地捕獲普通明場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)無法觀察到的數(shù)十?的表面粗糙度和劃痕，并可以使用激光探頭在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行定量粗糙度和階梯測(cè)量。
帶有諾馬斯基光學(xué)器件的NH-3N
包含諾馬斯基法學(xué)院的
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NH系列光路圖
使用激光探頭測(cè)量透鏡形狀測(cè)量
?曲率半徑、中心坐標(biāo)值
、圓度、頂點(diǎn)高度、XY坐標(biāo)、橫截面
、3D形狀測(cè)量、各透鏡表面的表面粗糙度
測(cè)量
、圓度、頂點(diǎn)高度、XY坐標(biāo)、橫截面
、3D形狀測(cè)量、各透鏡表面的表面粗糙度
測(cè)量
光學(xué)表征通過圖像處理測(cè)量
?有效焦距、后焦、有效MLA焦距、各鏡頭的集光位置
、錯(cuò)位、各鏡頭的對(duì)焦光斑尺寸
、透射率
、焦
平面上的圖像形成評(píng)估（彗差、畸變等）、
景深（可選）
?MTF測(cè)量（可選）
、錯(cuò)位、各鏡頭的對(duì)焦光斑尺寸
、透射率
、焦
平面上的圖像形成評(píng)估（彗差、畸變等）、
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