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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測(cè)厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測(cè)器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺(tái)階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無(wú)塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛(ài)睦威地震儀、HOKUYO北陽(yáng)電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
它是一種通過(guò)使用顯微光譜測(cè)量微小區(qū)域內(nèi)的優(yōu)良反射率，實(shí)現(xiàn)高精度膜厚和光學(xué)常數(shù)分析的設(shè)備。
可以以非破壞性和非接觸的方式測(cè)量各種薄膜、晶片、光學(xué)材料和多層薄膜等鍍膜的厚度?？蛇M(jìn)行1秒/點(diǎn)測(cè)量時(shí)間的高速測(cè)量。它還配備了軟件，即使是初學(xué)者也可以輕松分析光學(xué)常數(shù)。
詳情介紹：
- 膜厚測(cè)量所需的功能集成在頭部
- 使用顯微光譜進(jìn)行高精度優(yōu)良反射率測(cè)量（多層膜厚度、光學(xué)常數(shù)）
- 1點(diǎn)1秒內(nèi)高速測(cè)量
- 在微觀條件下（紫外到近紅外）實(shí)現(xiàn)寬測(cè)量波長(zhǎng)范圍的光學(xué)系統(tǒng)
- 區(qū)域傳感器的**機(jī)制
- 簡(jiǎn)單的分析向?qū)В词故浅鯇W(xué)者也能分析光學(xué)常數(shù)
- 配備宏功能，可讓您自定義測(cè)量順序
- 可以分析復(fù)雜的光學(xué)常數(shù)（多點(diǎn)分析法）
- 兼容 300mm 載物臺(tái)
- 支持各種自定義
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