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  • 可以立即測量優(yōu)良量子效率（優(yōu)良量子產率）。與粉末，溶液，固體（薄膜）和薄膜樣品兼容。低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外線區(qū)域中的雜散光。另外，通過采用集成的半球單元，可以實現(xiàn)明亮的光學系統(tǒng)，并且通過利用此優(yōu)勢的再激發(fā)熒光校正，可以執(zhí)行高精度的測量。此外，QE-2100能夠測量量子效率的溫度依賴性，并支持從紫外到近紅外的寬波長范圍。 　
  • 該設備可以輕松地離線檢查面內膜厚不均，以進行膜的研發(fā)和質量控制的抽樣檢查。 可以高速且高精度地測量整個表面。
  • 它是FPD生產過程中所有檢查的理想選擇，例如濾色片光學性能檢查和玻璃基板薄膜厚度檢查。
  • 它是一種相位差測量設備，可支持所有類型的膜，例如OLED偏振片，層壓相位差膜和帶IPS液晶相位差膜的偏振片。 實現(xiàn)與超高Re.60000 nm兼容的高速，高精度測量。 可以“非破壞性地不剝離”地測定膜的層疊狀態(tài)。 此外，它配備了簡單的軟件和校正功能，可支持由于樣品重新定位而導致的未對準，從而實現(xiàn)了簡單而高度**的測量。
  • 支持從反射/透射型LCD填充電池到帶有彩色濾光片的空電池等各種電池
  • “紫外光譜輻照度測量系統(tǒng)IL100”評估光源在紫外區(qū)域中的輻照度。 ?從分光光度計測量可高精度地測量照度? 從紫外線到可見光的測量波長范圍寬 ?可選擇適合于高斜入射特性等應用的照度頭·可 用于生物系統(tǒng)評估中不可缺少的PFD測量 它是一種即使在紫外線區(qū)域也可以實現(xiàn)高精度測量的設備。
  • 評估紫外線區(qū)域中光源的輻射度。 ? 通過分光輻射度測量可以高精度地測量亮度?支持紫外，可見光和紅外的寬波長測量范圍?可以進行光生物學 **性評估 它是可以測量紫外線亮度的受限設備。
  • 評估UV LED的光分布特性。 ?根據輻射強度/輻照度評估光分布 ?通過光譜光分布評估每個波長的輻射強度 可視化**和樹脂固化光源的不均勻輻射。
  • 評估UV LED的輻射通量。 ?高性能紫外線LED的輸出評估? 結合溫度控制單元的溫度評估 支持 UV-LED的 光學特性評估，該技術有望進行**，純化和樹脂固化。
  • 它是一種具有圖案匹配功能且XY定位精度為2um或更小的系統(tǒng)。
  • 高精度控制光軸！3σ≤0.02°用于 低延遲測量
  • 它是一種可以在薄膜生產現(xiàn)場在線測量薄膜厚度的裝置。 通過將原來的光譜干涉法與*新開發(fā)的高精度膜厚計算處理技術相結合，可以以至少測量間隔至少測量500 mm寬度的膜的膜厚（使用一個單元時）。 0.01秒
  • 它可以測量從LED到照明的各種光源的總光通量。 ?積分球+分光鏡支持從總光通量到顏色測量的廣泛范圍 ·通過控制光源的加熱/冷卻可以評估溫度特性 ·系統(tǒng)可以共同控制DC / AC電源。麻煩的操作所需的 測量精度是高集成度的半球，樣本集易于 測量的瓦特級大功率激光源相應的 測量系統(tǒng)從多年的經驗可以對應任何場景的總光通量測量，滿足了需求。
  • 一種測量照明設備的配光特性的設備。 ?使用內部開發(fā)的分光鏡可以實現(xiàn)高精度的測量！ -可以與配光數據一起測量顏色！- 即使在光譜測量中，也可以實現(xiàn)相當于照度計的高速測量！ ?根據配光測量結果可以進行照明率分析！!! -符合標準的測量系統(tǒng)！ ?也可以由測量基準部門提供技術支持！ 該設備可處理從室內照明到泛光燈的各種照明設備，并滿足多種用途的需求。
  • 它以超高速，實時，高精度的晶片和樹脂非接觸方式測量晶片等的研磨和拋光過程。
  • 除了可以進行高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜儀之外，我們還通過實現(xiàn)自動可變測量機制來支持所有類型的薄膜。除了常規(guī)的旋轉光子檢測器方法之外，通過為延遲板提供自動連接/分離機制，還提高了測量精度。 　
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