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新聞詳情
OTSUKA大塚電子VR行業(yè)相位差膜RETS-100nx
日期：2025-05-11 01:35
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摘要：OTSUKA大塚電子相位差膜RETS-100nx 是一種延遲測量設(shè)備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。
實(shí)現(xiàn)超高Re.60000nm的高速、高精度測量。
薄膜的層壓狀態(tài)可以通過“無剝離、無損”進(jìn)行測量。
此外，它還配備了簡單的軟件和校正功能，通過重新放置樣品來糾正偏差，從而輕松實(shí)現(xiàn)高精度測量。
OTSUKA大塚電子相位差膜RETS-100nx 是一種延遲測量設(shè)備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。
實(shí)現(xiàn)超高Re.60000nm的高速、高精度測量。
薄膜的層壓狀態(tài)可以通過“無剝離、無損”進(jìn)行測量。
此外，它還配備了簡單的軟件和校正功能，通過重新放置樣品來糾正偏差，從而輕松實(shí)現(xiàn)高精度測量。
*適合光學(xué)薄膜的偏振特性評估，如延遲（雙折射相位差）的波長色散評估、方向角（光學(xué)軸）和粘合角度的自動檢測
詳細(xì)介紹一下RETS-100 和 RETS-100nx
特點(diǎn)
探測器采用多通道光譜儀，可在任意波長下進(jìn)行高精度延遲（雙折射相位差）測量。
- 通過選擇傾斜和旋轉(zhuǎn)階段（可選），可以進(jìn)行視角表征，如三維折射率參數(shù)分析。
- 根據(jù)測量對象，可以構(gòu)建自由樣品階段。
- 微距離（0.1nm*）可以**測量。
測量項(xiàng)目
- 延遲（雙折射相位差）
- 延遲（雙折射相位差）的波長色散
- 樣品傾角
- 方位角和橢圓率
- 偏振度測量
- 光譜測量
- 色度測量
- 三維折射率參數(shù)分析
- 海茲*
- 光彈性*
應(yīng)用
- 光學(xué)膜相位差膜、橢圓膜、相位差板偏振膜、附加功能偏振膜、偏振板
- 液晶材料、液晶電池偏振測量偏振光學(xué)元件、單元（TN、STN、IPS、VA、OCB）
光學(xué)系
